Averaging Formula for Nielsen Numbers of Maps on Infra-Solvmanifolds of Type (R)

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

Lefschetz and Nielsen Coincidence Numbers on Nilmanifolds and Solvmanifolds

Suppose M 1 ; M 2 are compact, connected orientable manifolds of the same dimension. Then for all pairs of maps f,g:M 1 ?! M 2 , the Nielsen coincidence number N(f,g) and the Lefschetz coincidence number L(f,g) are measures of the number of coincidences of f and g: points x 2 M 1 with f(x) = g(x). A manifold is a nilmanifold (solvmanifold) if it is a homogeneous space of a nilpotent (solvable) ...

متن کامل

Lefschetz and Nielsen Coincidence Numbers on Nilmanifolds and Solvmanifolds, Ii

In 10], it was claimed that Nielsen coincidence numbers and Lefschetz coincidence numbers are related by the inequality N (f; g) jL(f; g)j for all maps f; g : S 1 ! S 2 between compact orientable solvmanifolds of the same dimension. It was further claimed that N (f; g) = jL(f; g)j when S 2 is a nilmanifold. A mistake in that paper has been discovered. In this paper, that mistake is partially re...

متن کامل

study of hash functions based on chaotic maps

توابع درهم نقش بسیار مهم در سیستم های رمزنگاری و پروتکل های امنیتی دارند. در سیستم های رمزنگاری برای دستیابی به احراز درستی و اصالت داده دو روش مورد استفاده قرار می گیرند که عبارتند از توابع رمزنگاری کلیددار و توابع درهم ساز. توابع درهم ساز، توابعی هستند که هر متن با طول دلخواه را به دنباله ای با طول ثابت تبدیل می کنند. از جمله پرکاربردترین و معروف ترین توابع درهم می توان توابع درهم ساز md4, md...

application of upfc based on svpwm for power quality improvement

در سالهای اخیر،اختلالات کیفیت توان مهمترین موضوع می باشد که محققان زیادی را برای پیدا کردن راه حلی برای حل آن علاقه مند ساخته است.امروزه کیفیت توان در سیستم قدرت برای مراکز صنعتی،تجاری وکاربردهای بیمارستانی مسئله مهمی می باشد.مشکل ولتاژمثل شرایط افت ولتاژواضافه جریان ناشی از اتصال کوتاه مدار یا وقوع خطا در سیستم بیشتر مورد توجه می باشد. برای مطالعه افت ولتاژ واضافه جریان،محققان زیادی کار کرده ...

15 صفحه اول

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Nagoya Mathematical Journal

سال: 2009

ISSN: 0027-7630,2152-6842

DOI: 10.1017/s0027763000009818